以下、メモ（敬称略）です。ここで、Q（質問）、A（答え）、C（コメント）です。
最新の状況は電子ログにある。
このmeetingでも発振問題を議論したが、その後、解決した。
テストボード（田内製作）のプリアンプへのレモケーブルのグランドとcold partのものとが結線されていなかったことが原因でした。 ただ、chamberからの配線による最初テストのときの発振の原因は不明だ（現在のものと同じ配線）。グランドラインの不良が関わっているのは確かのようだ。
3GΩ x 1pF = 3msecのfall timeはシグナルのoverlap可能性のことを考える（線源テスト時など, >kHz）と短くした方がよい。50MΩx3個=150MΩ、したがって150usecのfall timeをもつように交換したい。（3/15の月曜日に三原が交換作業をすることになった）
上記のレポートについての質問、コメントを藤井までお願いしたい。
3月10日に帰国し、15日と25日は少なくともKEKに来所したい。
測定器開発室関連の今後の予定として、3月22日午後に物理学会シンポジウム（主題：測定器技術の革新でつながるサイエンスの横糸）、そして、4月20日に開発室新展開検討会（公開シンポ）が予定されている。
以上。