以下、メモ(敬称略)です。ここで、Q(質問)、A(答え)、C(コメント)です。
box内のハンダ不良、pre-amp(A250)とテストボード(p250)との電気接触(ショート)などを修正した。
先ず、chamberからのpadシグナルケーブル4本をそれぞれのchに接続した。ch1とch2はFETとfeedback回路はchamber内のあり、ch3とch4の場合p250ボード上にある。ch1とch2のOUTとfeedbackケーブルをT型コネクターでbox上のOUTに接続したところ、比較的S/Nのよいpost amp(Ortec製の570と571を使用,ゲインはともに50倍)出力を得ることができた。その他の接続ではノイズが大きくなってしまった。α線からのシグナルとすると、液体キセノンの純度はかなりよくなっている(<10ppb)と思われる。ch3とch4のpost amp出力はノイズのみしか観測できなかった。特に、ch3は5V程度の大きなものが出力されていた。
次に、ch3とch4をテストパルスでチェックした。入力は100Hz,波高0.25(=0.5/2)Vの矩形波で、2pFのコンデンサーで電荷(0.5pC=0.25Vx2pF)が入力される。ch4は期待通りの0.5Vの出力があったが、ch3はそれより小さく不安定なものであった。ここでPre-ampゲインは1V/pCである。 ch3の原因追及のためA250やFETの交換を行ったが改善は見られなかった。さらに、box上のレモレセプタそしてTEST-IN用のコンデンサ(2pF)も交換したが改善は見られなかった。
本来の使用方法と違って恒温槽内に乾燥窒素を流しながら冷却を行った。到達温度は、フル運転でAISCテストボード上に設置した温度計で-20℃であった。このとき、冷凍機ヘッド部分の温度は-80℃であった。-100℃の目標温度に比べて高く、断熱シールド、ケーブルのフィードスル、テストボードと冷凍機ヘッドの熱コンタクトなどいろいろの改善が考えられる。
-20℃の状態でASICチップ(pre-amp + shaper amp + buffer amp )の結果は液体窒素による結果を再現するものであった。今回は、一定温度で十分な時間をかけいろいろの入力条件、特に、周波数依存性などを測定することができた。心配されていたノイズはshaper ampの出力ではほとんど問題とならなかった。ただし、ENC測定時には問題となるかもしれない。結果をまとめると、900Hz, +400mV出力の場合 次の二つの成分があった。+400mVパルスで約300Hzのものと+200mVから400mVまでゆるやかに(数秒?)変動するものであった。 100Hz, +400mV出力の場合 同様に2成分あった。+400mVパルスで約30Hzのものと+200mVから400mVまでゆるやかに(数秒?)変動するものであった。10Hz, +400mV出力の場合 ゆるやかに(20-30秒)変動していた。次に、入力のパルス高を1/2として同じようなものを観測した。全体に、変動がよりゆるやかになった。また、変動のパターンはランダムではなく、だんだん小さくなり、だんだん大きくなるというものであった。最大に達した時、しばらくそのままの状態を保持することもあった。
これから、pre-ampとshaper-ampのコンポーネントごとのTEG試験を行う予定である(東)。
サマーチャレンジのリハーサルは8/3-6です。
田中より、「サマーチャレンジで足りなかったモジュール(G.G.)は中村さんに持ってきていただくことになりました(恐らくすべてそろう?)。ネットワークはTAはtsubakiに接続できますが、参加学生はKEK外部LANになります。そのためデスクトップPCを含めてローカルネット接続を(無線)構成するかデスクトップPCをKEK外部LANに置くことが考えられます。ネット接続については計算機センターが対応することになってます。あと足りないものはPMT用HVケーブルですが来週ケーブル作りをTAの方と一緒にやりたいと思います。」とのメール連絡があった。
以上。