宮島さんからのアドバイス
1. 次回の実験提案
- Gap : 1cm
- Pressure : Range of α=1cm
- Source : α と γ
- 実験手順
- ガス状態で、飽和の確認とα線の波高スペクトル
矩形分布からAmp系の簡単（２点）な較正 - 0.6Eα to Eα
- ガスを除いて、真空を約1 x 10-5 Pa
- 液化；できたら早く、純度の点
- 電荷信号
ガスで決めた較正値から電荷量を見る
- 実験（２月中に出来たら）
- 液化する前に、ガスの状態で循環・純化したほうがよい（キセノンガスでTPCなどの検出器システムを洗浄する）。そのとき、できればベーキングを行う（PMTなどにより低温でも価値があると思われる）。
2. 開発項目
以下の２つの項目の開発も行うこと
- 真空・高圧（ガス圧）用の100KV耐圧のフィードスルーコネクター
- 真空・高圧（ガス圧）用の多芯フィードスルーコネクター
海野さんからのアドバイス
ASICチップの低温（-100℃）特性のシミュレーションも行うこと。
その他
- Q : メンバーのFTEはそれぞれいくらか？
- C : もし、スタッフのFTEが少ないとき、当初目的を遂行できないのではないか。 一般的に、そのような場合、測定器開発室からの支援は不適となる。
- Q : 純度モニターをすべきである。ガスクロ等で少なくともppmレベルを調べること。
- Q : TPCのない最も簡単なPMTのみの検出器で、シンチレーション光による純度の測定をすべきではないか。
- Q : やはり、液化速度を1時間程度にすべきと思う。測定器の入れ替えや純度を保つ上でも。
- Q : シンチレーション光と電離電荷とで、不純物の影響は同じであるのか。
- A : 前者は水による175nmの光の吸収、後者は酸素などの不純物に感度がある。ただし、使用しているゲッターはこれらものを同時に除去し総不純物の量を（仕様で）ppbにする。
- Q : Pre-Ampが低温（-100℃）で正常に動作しているのか。
- A : 使用しているA250（AMPTEK製）のカタログでは-55℃まで保証されている。
液が溜まっている状況で、テストパルス入力により動作を確認している。このとき、200MHzノイズはローパスフィルターで1/10の±2mVとしている。
- Q : 次回の実験でFETやfeedback C/Rを分離することとなっているが、ノイズ等問題とならないのか（ すでに確かめられている今の状態のほうがよいのではないか）
- A : 現在、その配線で試験を行っている。正常の動作を確認して使用する。この変更は200MHzのノイズを除去できるものであり、少なくともよい性能が得られる。
- Q : 低温でも使用できるASICチップの開発を行っているが、先ず、抵抗、コンデンサー等のコンポーネントの低温特性を測定すべきではないか。
- A : エレクトロニクスシステムとしての低温特性を実際のチップで測定したい。もし、十分な性能が得られないなら、ASICチップを常温に置き、シグナルをケーブルで取り出す従来方式を用いることが出来る。
- C : 各コンポーネントの低温特性を入れてシミュレーション結果を示してほしい。