2004年度の具体的課題
- 薄型ウェファー(S7960-改を用いる）
- 機械的強度・平面度測定
- 電気的特性(Dark current, 読出し速度)
- 物理への影響：Simulation(Efficiency, Purity, Jet charge, etc.) (1)
- 放射線耐性
- CTI, DCP, Hot pixel等のクロック（周波数、幅、波高）依存性 (2)
- 新しいドライバボード、Timing generator(FPGA)、cPCI DAQ systemが必要
- 放射線損傷が空間分解能に与える影響(レーザーを使ったスタディ) (3)
- 裏面照射型（薄型）CCDの放射線耐性の研究
- 年度後半にビーム照射(?) or 90Sr照射で十分?
- Beam Background Simulation：特に2-Photon Background w/o pt cut (4)
- (マルチポート CCD：概念設計)
- (読出しASIC：概念設計)
（下線(1)--(4)はThesis または Paper になりうる課題を示す）