2014, 3/5のLXeTPC (TXePET) 打ち合わせのメモ原稿

日時:3月5日、水曜日、午後1時30分より
場所:3号館4階会議室(425)
出席者:Vincent、田内(KEK)

以下、メモ(敬称略)です。ここで、Q(質問)、A(答え)、C(コメント)です。

進捗状況、Vincent

APD・センサー部分をアルミフォイルで静電シールドして、50HzのAC電源ノイズをほぼなくすことができた。このノイズ源はケーブル先端をループアンテナとしデジタルオシロスコープで隣に置かれたNIMクレートがその1つであることを突き止めた。

APDとpreampの間は約50cm長のレモケーブル(174/U)で接続した。APDの端子に+400Vのバイアス電圧を印加するが、テスターを使用するとその電圧が8V程度とモニターされる。これはテスターの電圧測定用の抵抗値が10Mオームであるためであった。GΩメータでAPDの抵抗の測定値は2.5GΩでカタログ値であることを確認した。バイアス電源への抵抗値が500MΩテストパルス出力を観測しながら、この接続を行ったところ、テストパルス出力の波高がかなり小さくなったことに気づいた。(APDの静電容量が80pF程度あるのでその影響と思われる。また、レモケーブルも100pF/mの静電容量を持つのでこの影響も加わる)

バイアス電圧の関数として、また、Shaping amplifierのゲインの関数として、光パルサー(241Am-NaI)を光源としてAPD出力の測定を行った。それらの結果は、e-logの http://zenon.kek.jp/APD/45 に載せた。

C : ハンダ付け部分が外れることが多々あるようだ。ハンダが天ぷらにならないように気をつけること。
C : ノイズ源となる余分な静電容量を小さくするためAPDに接続するケーブルの長さをできるだけ短くすることが必要である。
データの整理方法について議論を行った。

APDの静電容量の影響、田内

TPCFE+LTspiceを用いて、APDの静電容量の影響を計算した。 その結果をelogの http://zenon.kek.jp/APD/46 に載せた。 テストパルス出力をAPDの静電容量を1pFから500oFまでの関数として計算した。出力の波高は、10pF以下では影響がなく、80pFで62.5%、130pFでは50%に減少する結果が得られた。

次回の定例会議は3/13 (木)9:00- , 1号館談話室2。

以上。