JLCバーテックス検出器開発III 〜EEV社製と浜松ホトニクス社製のCCDについて〜

98/10/15


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目次

JLCバーテックス検出器開発III 〜EEV社製と浜松ホトニクス社製のCCDについて〜

Introduction

Testbeam Setup

Test samples

Dark Current and S/N

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S/N

S/N温度依存性

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Residual Resolution の定義

Clusterの中心位置について

RLM法

重心法とRLM法の違い

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Intrinsic Resolution

Efficiency

Efficiency

Conclusion

作成者 :阿蘇 司